boundary scan中文是什么意思

• 边界扫描

• boundary    n. 边界，疆界，限界 (between);(球场)边线 ...
• scan    vt. (-nn-) 1.细看，细察；审视。 2.〔口语 ...
• scan boundary    边缘扫描
• boundary scan test    边界绍
• boundary-scan architecture    边界扫描结构
• boundary-scan chain    边界扫描链
• language boundary scan description    边缘扫描描述语言
• a scan    型扫描
• a-scan    a型扫掠; a型扫描; 形扫描
• are scan    弧形扫描
• scan    vt. (-nn-) 1.细看，细察；审视。 2.〔口语〕大略一阅；浏览。 3.按韵节念，按句调读，标出(诗)的格律(指划分音步)。 4.【电视】扫描；扫掠；搜索。 vi. 1.(诗)符合格律，读起来抑扬顿挫。 2.【无线电】扫描。 This line does not scan. 这一行不合韵律。 n. 1.细看；细察。 2.扫视，浏览。 3.【电视】扫描；扫掠。 4.眼界；视野。
• scan in    扫描输入
• scan-in    扫描输入; 扫入
• boundary    n. 边界，疆界，限界 (between);(球场)边线；界标；界限，范围，分野。 aboundary dispute 边界纠纷。 the boundary between Canada and the United States 美加国界。 boundaries on all sides 四方辐辏之所，四通八达。
• scan-to-scan fluctuation    各次扫描参数起伏
• travering scan depth scan    前后扫查
• boundary mark， boundary point    界址点
• a-mode scan    a型扫描
• a-scope; a-scan    型显示
• acce scan    存取扫描
• access scan    存取扫描; 存取扫瞄；存取搜索; 取数访问; 取数扫描
• acquistion scan    截获扫探
• arithmetic scan    算术扫描
• atama scan    扫瞄机
• automatic scan    自动扫描

• Standard test access port and boundary scan architecture
  标准测试存取口及边界扫描体系结构
• Application of boundary scan technique to the design for board - level test
  边界扫描技术在板级可测性设计中的应用
• The article also addresses the mechanism of vector creation for boundary scan
  本文进一步分析了边界扫描测试矢量生成机制。
• Boundary scan aims at the test of application system , e . g . pcb test
  边界扫描测试是针对芯片的应用系统进行测试的，如pcb板测试。
• As a kind of new developing bit technology , boundary scan technology is widely used in industry
  边界扫描技术作为一种新兴的bit技术,在工业界内得到了广泛的应用。
• A plan of design for test based of boundary scan testing is introduced for this signal processing system
  接着，提出了该信号处理系统基于边界扫描的可测性设计方案。
• International standard ieee 1149 . 1 describes the basic circuit structure and performance of boundary scan
  国际标准ieee1149 . 1规定了边界扫描的基本电路结构和功能。
• Jx5 microprocessor ’ s testing structure comprises built - in self - test ( bist ) , boundary scan and internal scan
  Jx5微处理器的测试结构由bist 、边界扫描和内部扫描三部分组成。
• In this paper , we combine the standard modules realize the boundary scan of estarl and also expand it to the test of internal circuit . this structure can save the i / o port of the chip and simplify the testing program
  本文结合标准模块设计实现了estar1的边界扫描结构，并进行了扩展，应用到芯片内部测试，节约了测试i / o口消耗，简化了测试过程。
• In this paper we investigate and carry out boundary scan ^ internal scan and built - in self - test three dft technologies in the embedded microprocessor estarl and get satisfying result , the fault coverage is more than 96 %
  本文针对嵌入式微处理器estar1的结构特点，研究并实现了边界扫描、内部全扫描和内建自测试三种可测性设计技术，取得了良好的效果，故障覆盖率达到96以上。